Neues Konfokalmikroskop ZEISS LSM 800 für Materialforschung und Fehleranalyse

Logo: Carl Zeiss AG
Logo: Carl Zeiss AG

Oberkochen (pressrelations) –

Neues Konfokalmikroskop ZEISS LSM 800 für Materialforschung und Fehleranalyse

Alle essentiellen lichtmikroskopischen Kontrastmethoden und hochpräzise 3-D-Topographie in einem Instrument vereint

ZEISS präsentiert das neue konfokale Laser Scanning Mikroskop ZEISS LSM 800 für Materialanwendungen und Analysen in Forschung und Industrie. ZEISS LSM 800 ermöglicht präzise dreidimensionale Bildaufnahme von Strukturen und Oberflächen im Mikrometer-Maßstab. Die Kombination von konfokaler Fluoreszenzmikroskopie mit weiteren Kontrastmethoden in einem Instrument sorgt für hochpräzise Untersuchungen von Nanomaterialien, Metallen, Polymeren und Halbleitern mit einem Maximum an Information. Das System bietet zudem die exakte Erfassung von 3-D-Topographie und Untersuchungen von Strukturen im Nanometer-Bereich ohne Oberflächenkontakt.

Die Kombination von ZEISS LSM 800 mit ZEISS Axio Imager, der führenden inversen Mikroskopieplattform in der Materialforschung, ermöglicht eine Vielzahl an Hardwarekonfigurationen, beispielsweise bei Objektiven, Mikroskoptischen, und Beleuchtungstechniken. Durch die Verfügbarkeit zahlreicher lichtmikroskopischer Verfahren wie Hellfeld, Dunkelfeld, Polarisationskontrast und den ZEISS exklusiven zirkulären differentiellen Interferenzkontrast (C-DIC) in einem Stativ kommen Benutzer schneller zu Ergebnissen.

ZEISS LSM 800 beinhaltet die neueste Version der ZEN Bildaufnahmesoftware, die mit einer offenen Schnittstelle für Anwendungsentwicklung (OAD) einen Datenaustausch mit etablierter Analyse- und Forschungssoftware gewährleistet. Das Zusammenspiel von ZEISS Optik und Software garantiert höchste Reproduzierbarkeit bei Messungen, und ein Bildaufnahme-Assistent erleichtert die Bedienung und sorgt für standardisierte Aufnahmeparameter. Spezifische Neuentwicklungen für herausfordernde Materialapplikationen, darunter optimierte Scan-Geschwindigkeiten, Topographie-Analyse und Schichtdickenmessung, machen ZEISS LSM 800 zur ersten Wahl für Wissenschaftler und Ingenieure in Forschungs- und Industrielaboren.

Ein Webinar am 19. Mai 2016 erläutert detailliert alle Vorteile von ZEISS LSM 800 für Anwendungen in der Materialforschung und -analyse.

Pressekontakt:

Carl Zeiss AG
Carl-Zeiss-Straße 22
73447 Oberkochen
Deutschland

Telefon: +49 (7364) 20 – 0
Telefax: +49 (7364) 6808

Mail: info.de@zeiss.com
URL: http://www.zeiss.de/

Leave a reply:

Your email address will not be published.

Time limit is exhausted. Please reload CAPTCHA.

Site Footer